SuperViewW1三维光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是基于白光干涉原理研制而成，采用扩展型的相移算法EPSI，集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点，单一模式即可适用于从超光滑到粗糙、平面到弧面等各种表面类型，让3D测量变得简单。

chotest光学轮廓仪以白光干涉技术为原理，除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。

W1光学3D轮廓仪利用光学干涉原理，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点。对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

SuperViewW1光学材料表面形貌测试仪以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

SuperViewW1光学形貌轮廓仪测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广，是一款利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW1光学三维形貌轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。